日本日置3535LCR测试仪特点：

高速LCR仪，采样率可高至120MHz

• 100kHz～120MHz的宽频带
• 高速LCR测试（6ms/采样）
• 拆卸式前置放大器可选择
• 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

日本日置3535LCR测试仪技术指标：
测量参数	|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
前置放大器 决定的测量量程	前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03 Z和R 100mΩ～1kΩ 500Ω～10kΩ 5kΩ～100kΩ C 1.33pF～15.9μF 0.133pF～3.18nF 0.1pF～318pF L 1nH～1.59mH 663nH～15.9mH 6.63μH～159mH θ -180.00°～180.00°
测量频率	量程 100kHz～120MHz 分辨率设置 4位（使用前控制板设置） 100.0kHz～1.000MHz 100Hz幅度 1.000MHz～10.00MHz 1kHz幅度 10.00MHz～100.0MHz 10kHz幅度 100.0MHz～120.0MHz 100kHz幅度 使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。 精度 最大±0.005%，相对于设置值
测量电平	产品留言

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